CLJ-E型（半導體激光）塵埃粒子計數器 

該產品廣泛應用于電子、光學、化學、食品、化妝品、醫藥衛生、生物制品、航空航天等部門。 
主要技術參數及性能： 
1.光源:全半導體激光光源 
2.采樣量:2.83L/min(0.1cfm/min)瑞士*1%FS高精度流量計校驗流量 
3.流量氣泵：進口采樣泵 
4.檢測范圍:100級～100萬級   
5.允許被測試空氣的含塵濃度≯10萬顆/2.83L 
6.粒徑通道:0.3 0.5 1.0 3.0  5.0 10.0μm六檔 
7.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。 
8.采樣周期:1～10 (min) 
9.自凈時間:≤10 (min) 
10.校準：我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準 
11.工作環境:溫度:10～35℃   相對濕度:20～75%RH 
12.大功耗:20W 
13.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購） 
（1）溫度：0～50℃±1℃ 
（2）濕度：0～100%RH±5% 
14.采樣點數  2～9點設定 
15.每點采樣次數  2～9次設定 
16.UCL報表0：0000000符合FS-209E、中國GMP的標準 
17.工作時間：8小時 
18.電源：AC220V±10%   50±2Hz 
19.重量:3.5kg 
20.外形尺寸:220×280×135mm 
21.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。 
22.備注:內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架、鋁合金儀器箱 
(溫濕度探頭為選購件)