臺式分光測色儀 型號:YS6060

臺式分光測色儀技術特點  
1、硬件配置高：7吋TFT純彩電容觸摸屏；藍牙4.0 ；凹面光柵；  
2、雙陣列256像元CMOS探測器；高壽命穩定全光譜LED/紫外LED；  
3、測量樣品反射、透射光譜，Lab數據，可用于配色和顏色傳遞；  
4、口徑自動識別，Φ 25.4/15/8/4mm四種口徑任意切換、同時兼顧客戶特殊需要；  
5、溫度監控及補償，內置溫度傳感器，對測試環境進行監控和補償，保證測量結果更；  
6、測試波長范圍360?780nm  ,同時內置400nm截止/420nm截止, 測試UV更專業；  
7 、獨立光源探測器，時刻監控光源變化，確保光源可靠；  
8 、多種測量模式：質管模式、樣品模式，適應更多客戶需要；  
9 、多種可選配件：反射樣品夾持工具，透射固定架，微孔4mm透射夾具，儀器倒置測試夾具，更多工況；  
10、大容量存儲空間，可存儲約40000條測試數據；  
11、內置攝像頭取景定位；  
12、PC端軟件有強大的擴展功能。 
臺式分光測色儀 
產品型號YS6060 
照明方式反射：D/8（漫射照明，8°方向接收）; 
SCI/SCE測量;包括UV/排除UV測量； 
透射：D/0（漫射照明，0°方向接收） 
SCI/SCE測量;包括UV/排除UV測量； 
霧度(ASTM D1003); 
符合標準CIE 5，GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724/1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7 
特性用于實驗室分析與傳遞； 
塑膠電子、油漆油墨、紡織服裝印染、印刷等行業反射樣品、透明樣品顏色傳遞和質量控制方面。 
積分球尺寸Φ154mm 
照明光源360~780nm組合LED光源，400nm截止光源，420nm截止光源 
分光方式凹面光柵 
感應器256像元雙陣列CMOS圖像感應器 
測量波長范圍360~780nm 
波長間隔10nm 
半帶寬10nm 
反射率測定范圍0~200% 
測量口徑反射：Φ30mm/Φ25.4mm，Φ18mm/Φ15mm，Φ10mm/Φ8mm，Φ6mm/Φ4mm； 
透射：Φ30mm/Φ25.4mm 
備注： 
1.切換口徑自動識別 
2.客戶可根據需要自行配置口徑和透鏡位置 
含光方式反射SCI/SCE，透射SCI/SCE 
顏色空間CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,Musell,s-RGB,HunterLab,βxy,DIN Lab99 
色差公式ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99,ΔE(Hunter) 
其它色度指標WI(ASTM E313，CIE/ISO,AATCC,Hunter)， 
YI(ASTM D1925，ASTM 313), 

同色異譜指數Mt， 
沾色牢度,變色牢度,力份,遮蓋度 
鈷鉑指數，Gardner指數 
8度光澤度,555色調分類 ,霧度(ASTM D1003) 
觀察者角度2°/10° 
觀測光源D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2,F3,F4，F5，F6,F7,F8,F9，F10,F11,F12 
顯示光譜圖/數據，樣品色度值，色差值/圖，色品圖，顏色仿真，合格/不合格結果，顏色偏向 
測量時間約2.4s（同時測試SCI/SCE 約5s） 
重復性分光反射率：Φ25.4mm/SCI,標準偏差0.04%以內（400~700nm：0.04%以內）： 
色度值：Φ25.4mm/SCI,ΔE*ab 0.01以內（儀器預熱校正后,以間隔5s測量白板30次平均值） 
分光透過率：Φ25.4mm/SCI,標準偏差0.05%以內（400~700nm：0.04%以內）： 
色度值：Φ25.4mm/SCI,ΔE*ab 0.02以內（儀器預熱校正后,以間隔5s測量白板30次平均值) 
臺間差Φ25.4mm/SCI,ΔE*ab 0.12以內（BCRA系列Ⅱ 12塊色板測量平均值） 
尺寸長X寬X高=370X300X200mm 
重量約9.6kg 
供電方式直流24V,3A電源適配器供電 
照明光源壽命5年大于300萬次測量 
顯示屏TFT 真彩 7inch，電容觸摸屏 
接口USB，藍牙®4.0，打印串口 
存儲數據標樣5000條，試樣40000條（SCI/SCE算一條數據） 
語言簡體中文，繁體中文,English,(可定制德語、法語、西班牙語) 
操作溫度范圍0~40℃（32~104°F） 
存儲溫度范圍 -20~50℃（-4~122°F） 
標準附件電源適配器、說明書、品質管理軟件(下載)、數據線、標準校正板，黑校正盒、透射黑擋板、樣品固定架，25.4口徑，15口徑，8口徑，4口徑，透射測試夾具組件 
可選附件微型打印機、微孔(4mm)透射測試夾具組件、儀器倒置測試夾具 
注：如有變更，恕不另行通知